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Metrología dimensional

dc.contributor.authordel Castillo Rodríguez, Felipe Díaz
dc.contributor.authorDepartamento de ingeniería, UNAM
dc.contributor.authorUNAM
dc.coverage.spatialMéxicoes_ES
dc.coverage.temporal14 de enero del año 2013es_ES
dc.date.accessioned2016-11-23T20:56:21Z
dc.date.available2016-11-23T20:56:21Z
dc.date.issued2016-11-23
dc.identifier.otherhttp://olimpia.cuautitlan2.unam.mx/pagina_ingenieria/mecanica/mat/mat_mec/m2/METROLOGIA.pdfes_ES
dc.identifier.urihttp://metabase.uaem.mx//handle/123456789/2253
dc.descriptionTexto que trata sobre la metrología: sistemas e instrumentos de medición, calibrador con vernier, micrómetro, etc. Útil para docentes y estudiantes de ingeniería mecánica e ingeniería industrial. Requerimientos técnicos: Dispositivo con editor o lector de texto pdf. | Costo involucrado: Gratuito. | Compatibilidad móviles: Disponible. | Accesibilidad: N/A.es_ES
dc.language.isoeses_ES
dc.rightsCopyrightes_ES
dc.subjectMetrologíaes_ES
dc.subjectInstrumentos de mediciónes_ES
dc.subject.classificationIngeniería y tecnologíaes_ES
dc.subject.otherNo aplicaes_ES
dc.titleMetrología dimensionales_ES
dc.typeTextoes_ES
dc.audienceDocentes y estudiantes de Ingeniería mecánicaes_ES
dc.audience.educationLevelSuperiores_ES


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