| dc.contributor.author | del Castillo Rodríguez, Felipe Díaz | |
| dc.contributor.author | Departamento de ingeniería, UNAM | |
| dc.contributor.author | UNAM | |
| dc.coverage.spatial | México | es_ES |
| dc.coverage.temporal | 14 de enero del año 2013 | es_ES |
| dc.date.accessioned | 2016-11-23T20:56:21Z | |
| dc.date.available | 2016-11-23T20:56:21Z | |
| dc.date.issued | 2016-11-23 | |
| dc.identifier.other | http://olimpia.cuautitlan2.unam.mx/pagina_ingenieria/mecanica/mat/mat_mec/m2/METROLOGIA.pdf | es_ES |
| dc.identifier.uri | http://metabase.uaem.mx//handle/123456789/2253 | |
| dc.description | Texto que trata sobre la metrología: sistemas e instrumentos de medición, calibrador con vernier, micrómetro, etc. Útil para docentes y estudiantes de ingeniería mecánica e ingeniería industrial.
Requerimientos técnicos: Dispositivo con editor o lector de texto pdf. | Costo involucrado: Gratuito. | Compatibilidad móviles: Disponible. | Accesibilidad: N/A. | es_ES |
| dc.language.iso | es | es_ES |
| dc.rights | Copyright | es_ES |
| dc.subject | Metrología | es_ES |
| dc.subject | Instrumentos de medición | es_ES |
| dc.subject.classification | Ingeniería y tecnología | es_ES |
| dc.subject.other | No aplica | es_ES |
| dc.title | Metrología dimensional | es_ES |
| dc.type | Texto | es_ES |
| dc.audience | Docentes y estudiantes de Ingeniería mecánica | es_ES |
| dc.audience.educationLevel | Superior | es_ES |
