Metrología dimensional

del Castillo Rodríguez, Felipe Díaz ; Departamento de ingeniería, UNAM ; UNAM (2016-11-23)

Texto que trata sobre la metrología: sistemas e instrumentos de medición, calibrador con vernier, micrómetro, etc. Útil para docentes y estudiantes de ingeniería mecánica e ingeniería industrial. Requerimientos técnicos: Dispositivo con editor o lector de texto pdf. | Costo involucrado: Gratuito. | Compatibilidad móviles: Disponible. | Accesibilidad: N/A.

Date:2016-11-23

Description:

Texto que trata sobre la metrología: sistemas e instrumentos de medición, calibrador con vernier, micrómetro, etc. Útil para docentes y estudiantes de ingeniería mecánica e ingeniería industrial. Requerimientos técnicos: Dispositivo con editor o lector de texto pdf. | Costo involucrado: Gratuito. | Compatibilidad móviles: Disponible. | Accesibilidad: N/A.
Tipo de material:Texto
Language (ISO):es
License:Copyright
Audiencia:Docentes y estudiantes de Ingeniería mecánica
Nivel educativo:Superior
Área de conocimiento del nivel media superior:No aplica
Área de conocimiento del nivel superior:Ingeniería y tecnología
Palabras clave:Metrología
Instrumentos de medición
Cobertura temporal:14 de enero del año 2013
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